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用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究

胡又林

胡又林. 用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究[J]. 武汉大学学报 ( 信息科学版), 1990, 15(4): 70-75.
引用本文: 胡又林. 用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究[J]. 武汉大学学报 ( 信息科学版), 1990, 15(4): 70-75.
Hu Youlin. Guided Wave Method for Characterization of Thin Films as Compared to Wideband Spectrophotometric Method[J]. Geomatics and Information Science of Wuhan University, 1990, 15(4): 70-75.
Citation: Hu Youlin. Guided Wave Method for Characterization of Thin Films as Compared to Wideband Spectrophotometric Method[J]. Geomatics and Information Science of Wuhan University, 1990, 15(4): 70-75.

用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究

Guided Wave Method for Characterization of Thin Films as Compared to Wideband Spectrophotometric Method

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出版历程
  • 收稿日期:  1989-11-14
  • 刊出日期:  1990-04-05

用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究

摘要: 通过对导波光学和分光光度法的实验比较研究,证明了导波光学技术在测量光学薄膜特征参数方面的可靠性及其良好精度。

English Abstract

胡又林. 用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究[J]. 武汉大学学报 ( 信息科学版), 1990, 15(4): 70-75.
引用本文: 胡又林. 用于光学薄膜测量的导波光学方法与分光光度技术的比较研究[J]. 武汉大学学报 ( 信息科学版), 1990, 15(4): 70-75.
Hu Youlin. Guided Wave Method for Characterization of Thin Films as Compared to Wideband Spectrophotometric Method[J]. Geomatics and Information Science of Wuhan University, 1990, 15(4): 70-75.
Citation: Hu Youlin. Guided Wave Method for Characterization of Thin Films as Compared to Wideband Spectrophotometric Method[J]. Geomatics and Information Science of Wuhan University, 1990, 15(4): 70-75.

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